生産工程中に、破損しているPVセルを発見する | Silicon Photovoltaic Wafer Screening System

Silicon Photovoltaic Wafer Screening System.jpg

完成したソーラーパネルの内の5〜10%は、構成するPVセルの一部に
マイクロ単位のクラック(ヒビ)が入っていることで、出力異常があるそうです。
この装置はクラックをセルの段階(パネル化する前)で発見することで、
完成品パネルの不良率を画期的に削減するとのこと。

via:CleanTechnica
Original:Silicon Photovoltaic Wafer Screening System

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